Strumentazione per la caratterizzazione morfologico-compositiva:
- Microscopio DualBeam SEM/FIB, FEI Helios Nanolab 600 con EDS Oxford
- Microscopio SEM, ZEISS Sigma 300 con EDS Bruker.
- Microscopio Elettronico a Trasmissione TEM, Philips CM 120 con Nanoprobe
- Microscopi ottici Nikon: dritto, metallografico e stereo.
- Video boroscopio portatile PCE-VE 500
- Profilometro 3D Confocale/Interferometrico, Leica DCM 3D
- Microscopio a forza atomica Bruker Dimension Icon
- Diffrattometro a raggi X con culla di Eulero per analisi degli stress residui, Bruker D8 DaVinci
Microscopio SEM-FIB con microanalisi EDX
Microscopio Elettronico a Trasmissione con nanoprobe
Microscopio Elettronico a Scansione con microanalisi EDX
Profilometro 3D Confocale/Interferometrico
Microscopi ottici
Video boroscopio portatile
Diffrattometro ai raggi X con culla di Eulero
Microscopio a Forza Atomica
Strumentazione per la caratterizzazione macro, micro e nano-meccanica:
- Scratch tester, CSM Revetest
- Durometro Universale Rockwell, Brinell e Vickers, Galileo
- Microdurometro Vickers, Knoop, Mitutoyo HM124
- Nanoindentatore dinamico con testa XP e DCM-II, MTS G200
- Nanoindentatore dinamico, iNano della Nanomechanics
- Nanoindentatore dinamico per camera SEM, InSEM della Nanomechanics
- Durometro Shore D
- Wear tester per calcolo coeff. di usura e attrito, TUC “homemade brevettato”
- Macchina per prove di trazione, compressione e flessione, Pull off di rivestimenti. ZwickRoell “AllRound” Fmax 10 kN