Il costo è da considerarsi orientativo in quanto dipende dalla complessità della prestazione. Si prega quindi di richiedere una quotazione compilando l’apposita Request Form.
| #-categoria | Scopo | Strumento | Metodo (Normativa) | Descrizione | costo indicativo (€) | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | analisi elementale | FEI Helios NanoLab™ 600 | EDS () | Tariffa giornaliera Helios comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 1500 a 3000 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | analisi elementale | Transmission electron Microscope | EDS in nanoprobe o SAD () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 1500 a 2500 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | osservazione mediante elettroni | Transmission electron Microscope | in trasmissione () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 1400 a 2300 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | osservazione mediante elettroni / ioni | FEI Helios NanoLab™ 600 | in riflessione () | Tariffa giornaliera Helios comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 1200 a 2300 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | durometria su scala nano | Agilent NANO Indenter® G200 | nanoindentazione strumentata () | utilizzo dello strumento per un giorno (24 ore, prove la notte ed elaborazioni il giorno) | da 1200 a 2000 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | cristallografia | Bruker D8 Discover DaVinci Xray Diffractometer | diffrazione a raggi X () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato anche in configurazioni speciali: point focus, fluorescence rejection optimization, 2D maps of highly texured materials with XE feature, applicazione del metodo Rietveld. | da 800 a 1900 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | osservazione nel visibile | Optical Microscopy | in riflessione () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 300 a 500 | |
| 00-Costo giornaliero con Tecnico specializzato | osservazione nel visibile | Optical Microscopy | in trasmissione () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 350 a 500 | |
| 01-Preparativa | assottigliamento | FEI Helios NanoLab™ 600 | focussed ion milling (ASTM E3) | Documentazione tecnica di tutta l’operazione dalla deposizione del Pt alla lucidatura finale: almeno 10 micrografie montate su un allegato tecnico | da 250 | |
| 01-Preparativa | attacco chimico | SEM sample preparation line | chimico () | Decapaggio superfici per rimozione dello strato di ossido con opportuni deossidanti | da 100 | |
| 01-Preparativa | conduttivizzazione | SEM sample preparation line | magnetron sputtering (ASTM E3) | Deposizione di carbonio per batch di 1-6 campioni (diametro max portacampioni: ½”): | da 90 | |
| 01-Preparativa | conduttivizzazione | SEM sample preparation line | magnetron sputtering (ASTM E3) | Deposizione di film di oro tramite per batch di 1-6 campioni (dim. max diametro portacampioni: ½”): | da 100 | |
| 01-Preparativa | cross section | FEI Helios NanoLab™ 600 | focussed ion milling () | Realizzazione di una cross section (larghezza e profondità da 5um a 20um) su un campione conduttivo / non conduttivo (Pt / Pt ion protettivo + milling) | da 400 | |
| 01-Preparativa | inglobamento | SEM sample preparation line | inglobatrice a caldo (ASTM E3) | conduttiva rame, grafite; non conduttiva / trasparente, costo a campione | da 50 a 100 | |
| 01-Preparativa | lucidatura | SEM sample preparation line | piatto rotante, manuale (ASTM E3) | con varie carte, panno e sospensione diamantata / silica colloidale fino a 1/4 um: | da 50 a 150 | |
| 01-Preparativa | riduzione a misura e montaggio | workshop for big sample resizing | manuale / utensile (ASTM E3) | campioni su portacampioni strumento (stub): | da 50 a 300 | |
| 01-Preparativa ionica | assottigliamento | FEI Helios NanoLab™ 600 | focussed ion milling (ASTM E3) | Realizzazione lamella TEM in cross section (spessore 100-150nm) e montaggio su griglia TEM su una zona particolare (microindentazioni, difetti superficiali, ecc.) | da 1000 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | analisi elementale | Scanning electron Microscope | EDS (ASTM E1508-98) | Analisi quantitativa in un’area senza calibrazione o con calibrazione da campioni standard (accuratezza 0,2%-3% in funzione del tipo di campione, 5 misure): | da 100 a 400 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | analisi elementale | FEI Helios NanoLab™ 600 | EDS (ASTM E1508-98) | Analisi quantitativa in un’area senza calibrazione o con calibrazione da campioni standard (accuratezza 0,2%-3% in funzione del tipo di campione, 5 misure): | da 200 a 600 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | Misura di spessore | confocal/interferometric 3D profilometer | interferometria ottica e confocale (UNI EN 1071-1) | Determinazione dello spessore di un rivestimento mediante l’acquisizione di 5 profili in differenti zone | da 150 a 250 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | Misura di spessore | Complex wear system tribometer | metodo dell abrasione di una calotta sferica (CaloTest) (UNI EN 1071-2) | Determinazione dello spessore di un rivestimento ceramico mediante la realizzazione e di 5 calotte sferiche | da 150 a 250 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | osservazione mediante elettroni | Scanning electron Microscope | in riflessione () | Osservazione tramite rivelatore SE o BSE con tensione di accelerazione tra 500 V e 30 kV per ingrandimenti fino a 660.000X | da 150 a 500 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | osservazione mediante elettroni | Transmission electron Microscope | in trasmissione () | Osservazione con acquisizione digitale di 3 campi di interesse fino al massimo ingrandimento significativo (max 660.000X) e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 x 8, 256 livelli di grigio: | da 350 a 500 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | osservazione mediante elettroni | FEI Helios NanoLab™ 600 | in trasmissione () | Osservazione tramite rivelatore STEM con tensione di accelerazione tra 5 kV e 30 kV per ingrandimenti max 500.000X: con acquisizione digitale di 3 campi di interesse | da 400 a 800 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | osservazione nel visibile | Optical Microscopy | in riflessione () | Osservazione in riflessione (BF, DF, DIC, polarizzatore, contrasto di fase) fino a ingrandimento max 500X: | da 80 a 200 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | osservazione nel visibile | Optical Microscopy | in trasmissione () | Osservazione in trasmissione (BF, DF, polarizzatore) fino a ingrandimento max 1000X, con utilizzo di obiettivi ad alta luminosità (CF Plan BD, 0.80 N.A.) o ad elevato ingrandimento (CF Plan BD 100X): | da 100 a 200 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | confocal/interferometric 3D profilometer | interferometria ottica e confocale () | Tariffa giornaliera comprensiva di operatore tecnico specializzato: | da 500 a 1500 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | confocal/interferometric 3D profilometer | interferometria ottica e confocale (UNI EN ISO 4288, UNI ISO 25178) | Acquisizione di una singola area di scansione (FoV funzione dell’ottica impiegata) su campioni a geometria complessa a bassa riflettanza | da 150 | |
| 02-Analisi morfologico-compositiva | profilometria 3D | confocal/interferometric 3D profilometer | interferometria ottica e confocale (UNI ISO 25178) | Misura di rugosità intradifetti (livellamento superfici, rugosità secondo normativa, visualizzazione 3D) | da 200 | |
| 03-analisi strutturale | cristallografia | Transmission electron Microscope | diffrazione elettronica () | Individuazione puntuale cristallografica e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 | da 300 a 500 | |
| 03-analisi strutturale | cristallografia | Transmission electron Microscope | diffrazione elettronica () | Individuazione puntuale cristallografica di almeno due assi di zona con individuazione e misura dei parametri di cella e registrazione su file formato TIFF 1534 x 1024 | da 400 | |
| 03-analisi strutturale | analisi degli stress residui | Bruker D8 Discover DaVinci Xray Diffractometer | diffrazione a raggi X (GID) () | Pacchetto di diffrattogrammi a vari angoli di incidenza solo diffrattogrammi | da 150 | |
| 03-analisi strutturale | analisi degli stress residui | Bruker D8 Discover DaVinci Xray Diffractometer | diffrazione a raggi X metodo sin2psi () | Stima dello stress su una sola riflessione hkl mediante software LEPTOS (su diffrattogramma esistente) | da 600 | |
| 03-analisi strutturale | analisi degli stress residui | Bruker D8 Discover DaVinci Xray Diffractometer | diffrazione a raggi X metodo hkl () | Stima dello stress a incidenze multiple, stress depth profiling mediante software LEPTOS (su diffrattogramma esistente) | da 600 | |
| 03-analisi strutturale | cristallografia | Bruker D8 Discover DaVinci Xray Diffractometer | diffrazione a raggi X () | Misura della texture mediante software MULTEX | da 600 | |
| 03-analisi strutturale | analisi degli stress residui | FEI Helios NanoLab™ 600 | FIB + DIC () | metodo del ring core più digital imaging correlation | da 1300 | |
| 04-nanolavorazioni | pattern vettoriali | FEI Helios NanoLab™ 600 | focussed ion milling () | Realizzazzione di un pattern utilizzando i modelli predefiniti dello strumento (tutti i pattern sono contenuti in una immagine ionica) | da 450 | |
| 04-nanolavorazioni | pattern vettoriali | FEI Helios NanoLab™ 600 | focussed ion milling () | Realizzazzione di una serie pattern che richiede la scrittura di uno script per la modalità autoFIB | da 650 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Carico di rottura e modulo elastico | AllRound Z010 TH | Test di trazione, compressione e flessione a 3 punti. Carico max: 10kN (ISO 6892 e ISO 527) | Esecuzione di 3 test su provino standard con controllo in carico o in spostamento | da 100 a 150 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Carico di rottura | AllRound Z010 TH | Test di trazione. Carico max: 10kN () | Esecuzione di 3 test su provino non standard (vedi pull off test) | da 150 a 300 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Analisi dinamico-meccanica di materie plastiche ed elastomeri, tessuti biologici, tessuti tecnici artificiali e materiali a bassa rigidezza nella forma di film, bulk e filamenti | DMA Q800 TAInstrument | prove meccaniche strumentate in ambiente controllato (temperatura e umidità) con opzionale DIC e/o monitoraggio in continuo fino a rottura tramite indagini ottiche acquisite con high speed video camera, analisi morfologica post failure | Multistrain; multistress; multifrequency-strain; multifrequency-stress; creep; stress relaxation; iso-strain; controlled force; strain rate; temperature test (-150°C to +600°C); umidity (5%-95% RH) | set di test di tre campioni – da 500 a 2000 (senza analisi dati); – da 700 a 3000 (con analisi dati); – da 1000 a 4000 (con ingegnerizzazione prova); – monitoraggio prova/indagine morfologica: da 1000+ – preparativa campioni 200 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Analisi meccanica per prove non-standard anche accoppiabili ad altre misure (elettriche, termiche etc) e/o anche in ambiente inerte (azoto, argon) per la caratterizzazione meccanica, della funzionalità di materie plastiche ed elastomeri, tessuti biologici, tessuti tecnici artificiali, dispositivi, sensori, materiali a bassa rigidezza nella forma di film, bulk e filamenti di forma e dimensioni anche non convenzionali | Sistema di trazione/compressione by MultiMat | prove meccaniche strumentate accoppiabili con sollecitazioni termiche ed elettriche con DIC integrata (anche con microscopia ottica), analisi morfologica post failure | Controllo di spostamento con sollecitazioni custom, accoppiabile a sollecitazioni termiche/elettriche | set di test di tre campioni – da 500 a 2000 (senza analisi dati); – da 700 a 3000 (con analisi dati); – da 1000 a 4000 (con ingegnerizzazione prova); – monitoraggio prova/indagine morfologica: da 1000+ – preparativa campioni 200 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Caratterizzazione dinamica di materiali, microdispositivi, film, strutture | Scanning Laser Vibrometer MSA500 by Polytech | Prove dinamiche | Scannerizzazione della risposta su aree 5x5cm o analisi su singolo punto. Time History (Velocità nel tempo), FFT Spectrum Vibration modes | Test su un campione – da 400 (senza analisi dati); – da 600 (con analisi dati) | |
| 06-Proprietà meccaniche | Caratterizzazione meccanica a torsione su fili, filati, film ed assemblaggi di piccole dimensioni | Digital Torque/force system by MultiMat | Prove meccaniche di torsione in ambiente strumentato con opzionale DIC e/o monitoraggio in continuo fino a rottura tramite indagini ottiche acquisite con high speed video camera /analisi morfologica post failure | modulo di elasticità a taglio, resistanza a taglio a snervamento, resistenza finale a taglio, modulo di rottura a taglio, duttilità | Test su tre campioni – da 500 a 2000 (senza analisi dati); – da 700 a 3000 (con analisi dati); – da 1000 a 4000 (con ingegnerizzazione prova); – monitoraggio prova/indagine morfologica: da 1000+ – preparativa campioni 200 | |
| 06-Proprietà meccaniche | Dispositivo per monitoraggio di meccanismi/fenomeni a rapida evoluzione, flessibile nell’utilizzo ed accoppiabile con microscopia ottica. Esempi applicativi: studio meccanica del movimento di micro e macro dispositivi e strutture, monitoraggio in continuo meccanismi di rottura materiali, moto/interazione particelle, vibrazioni strutturali, impatto meccanico, urti, crescita tessuti cellulari/biologici, monitoraggio particolati biologici (batteri/virus), cambiamenti di fase etc | High Speed Camera “IDT VISION” | monitoraggio in continuo | analisi moto (spostamento, velocità, accelerazione), video, sequenza immagini | Test su un campione – da 250 euro | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | adesione su scala micro | CSM REVETEST® Scratch Testing instrument | microscratch (UNI EN 1071-3 ) | Macro- e Micro-scratch testing per la misura della adesione di rivestimenti sottili. Determinazione dei carichi critici di adesione Lc1, Lc2, Lc3. I valori riportati corrispondono ad una media di cinque prove di scratch. | da 300 a 500 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | adesione su scala nano | Agilent NANO Indenter® G200 | nanoscratch (ISO 20502:2005) | Nano-scratch testing per la misura di adesione e attrito nel caso di rivestimenti ultra-sottili o rivestimenti soffici. Determinazione dei carichi critici di delaminazione. Utilizzo di indentatori a raggio di curvatura variabile a seconda della natura del | da 700 a 1000 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala macro | Universal Hardness Tester | indentazione (ISO 6506, 6507, 6508) | Durezza Rockwell (tutte le scale), Brinell e Vickers con carichi da 187.5 a 31kg su materiale omogeneo piatto | da 50 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala macro | Universal Hardness Tester | indentazione (ASTM E18-02) | Durezza Rockwell (tutte le scale), Brinell e Vickers con carichi da 187.5 a 31 kg su materiale omogeneo curvo | da 50 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala macro | Universal Hardness Tester | indentazione (UNI EN 1071-8) | Durezza Rockwell-C (indentatore sfero-conico, raggio di curvatura all’apice 200 µm) per la misura qualitativa della adesione e tenacità di rivestimenti sottili ceramici | da 50 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala macro | Durometer Shore D | indentazione (UNI ISO 21509, ISO 868) | Durezza Shore D su plastiche dure omogene e piatte | da 50 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala micro | Hardness Tester | microindentazione (ASTM E384) | Microdurezza tipo MHV e MHK su campione disomogeneo con carichi da 2000 a 0.5g | da 150 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala micro | Hardness Tester | microindentazione (ASTM E384) | Profilo di durezza: serie di misure puntuali HR, HB, HV | da 200 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala micro | Hardness Tester | microindentazione (ASTM E384) | Profilo di microdurezza: serie di misure puntuali MHV, MHK | da 400 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala micro | Hardness Tester | microindentazione (ASTM E384) | Calcolo della durezza superficiale di sistemi rivestiti con film sottili (tipicamente con spessore confrontabile con la diagonale dell’impronta) mediante l’applicazione di modelli semi-empirici (Jonhson-Hogmark, Chicot-Lesage o altri). Ogni carico calcola | da 600 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala nano | Agilent NANO Indenter® G200 | nanoindentazione strumentata (UNI EN 14577-1-2-3) | Nanodurezza Berkovich su campioni massivi o rivestiti a comportamento non viscoso. Valutazione delle curve di variazione di durezza (e relativi intervalli di confidenza) e modulo elastico in funzione della profondità di indentazione. Ogni curva è ottenut | da 700 a 1000 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala nano | Agilent NANO Indenter® G200 | nanoindentazione strumentata (UNI EN 14577-1-2-3) | Nanodurezza su campioni a comportamento viscoelastico – indentatore Flat-Punch. Valutazione delle curve di variazione (e relativi intervalli di confidenza) di durezza, modulo elastico (storage modulus) e modulo dissipativo (storage modulus) in funzione de | da 1000 a 2000 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | durometria su scala nano | Agilent NANO Indenter® G200 | nanoindentazione strumentata (UNI EN 14577-1-2-3) | Nanodurezza scon l’utilizzo di indentatori non convenzionali (indentatore wedge, indentatori sfero-conici). Valutazione delle curve di variazione (e relativi intervalli di confidenza) delle proprietà di interesse al variare della profondità di indentazion | da 1500 a 3000 | |
| 06-Proprietà meccaniche di superficie | misura delle tensioni residue | FEI Helios NanoLab™ 600 | FIB-DIC () | Metodo del ring core milling tramite FIB e analisi di immagine tramite Digital Image Correlation, 3 test per ciascuna zona. | da 1300 | |
| 08-Prove tribologiche | misure di usura e attrito | Complex wear system tribometer | Misura del coefficiente di usura (modello di Archard ) tramite Implemented Rotating Wheel (UNI EN 1071-6) | Esecuzione di 5 crateri su campione massivo | da 500 a 1500 | |
| 08-Prove tribologiche | misure di usura e attrito | Complex wear system tribometer | Misura del coefficiente di usura (modello di Archard ) tramite Implemented Rotating Wheel () | Esecuzione di 5 crateri su campione con rivestimento multilayer e misura dinamica del coefficiente di usura in funzione della z | da 1000 | |
| 08-Prove tribologiche | misure di usura e attrito | Complex wear system tribometer | Misura del coefficiente di attrito mediante prova di Pin-on-Disk (ASTM G99-04a) | Esecuzione di 3 prove di Pin-On-Disk per la misura del coefficiente di attrito su campioni con rivestimento monolayer | da 300 a 500 | |
| 09-Analisi chimico fisica | energia superficiale | CAM Contact Angle Measurement Instrument – Goniometer | sessile drop (UNI-EN 828, UNI 9752, ASTM-D 5725-99) | Esecuzione secondo il metodo “sessile drop” attraverso la deposizione di almeno 5 gocce di acqua distillata e foto macro. Elaborazione dell’immagini per la misura dell’angolo di contatto. | da 100 | |
| 09-Analisi chimico fisica | energia superficiale | CAM Contact Angle Measurement Instrument – Goniometer | pendant drop (UNI-EN 828, UNI 9752, ASTM-D 5725-99) | Esecuzione secondo il metodo “pendant drop” attraverso una foto macro della goccia pendente del liquido da esaminare (almeno 5 prove). Elaborazione delle immagini per la misura del diametro principale e secondario ed estrapolazione del valore di tensione | da 150 | |
| 09-Analisi chimico fisica | misura della colorazione | Colorimeter | in riflessione () | Spettrofotometro multifunzionale per profilare monitor, proiettori e stampanti e misurare colori. | da 100 | |
| 09-Analisi chimico fisica | Energie di legame | FTIR | Spettrometria a luce infrarossa () | Estrapolazione dello spettro e riconoscimento del composto, gruppi funzionali, purezza | da 250 | |
| 12-Surface coating and modification | modifica delle proprietà di superficie mediante apporto di materiale | MS-PVD | deposizione fisica da fase vapore mediante magnetron sputtering () | rivestimento in metallo (non prezioso) su metalli o dielettrici in atmosfera inerte o reattiva per spessori fino ad un micron e superfici fino a 10 cm2, dimensione maggiore massimo 10 cm | da 3000 | |
| 12-Surface coating and modification | modifica delle proprietà di superficie mediante apporto di materiale | MS-PVD | deposizione fisica da fase vapore mediante magnetron sputtering () | rivestimento in metallo prezioso su metalli o dielettrici in atmosfera inerte per spessori fino ad un micron e superfici fino a 10 cm2, dimensione maggiore massimo 10 cm | da 3500 | |
| 12-Surface coating and modification | modifica delle proprietà di superficie senza apporto di materiale | PYRO – Flame Treatment | Flame Treatment () | attivazione di plastiche con fiamme ossigeno/propano per campagne di sperimentazione fattoriale (per giornata di impiego, incluso l’operatore) | da 1500 | |
| 13-Proprietà Elettriche ed elettro-meccaniche | Caratterizzazione elettrica e valutazione devices, materiali, semiconduttori, componenti attivi/passivi e qualsiasi tipologia di devices | Semiconductor Parameter Analyzer Agilent Tech B1505A | prove elettriche strumentate con high power a medium power source, multifrequency capacitance | IV curves; Resistence; resistivity; voltage; current; impedence; capacitance; | set di test di tre campioni – da 200 a 1000 (senza analisi dati); – da 400 a 1800 (con analisi dati); – da 800 a 2500 (con ingegnerizzazione prova); – preparativa campioni 400 | |
| 13-Proprietà Elettriche ed elettro-meccaniche | Caratterizzazione elettrica-dinamica, ferroelettrica e piezoelettrica (attiva e passiva) per attuazione e sensoristica | Oscilloscopio BK Precision Z556; Signal Generator BK Precision 4065 dual channel function | prove elettriche strumentate | voltage-time curves; | set di test di tre campioni – da 100 a 800 (senza analisi dati); – da 200 a 1200 (con analisi dati); – da 400 a 1600 (con ingegnerizzazione prova); – preparativa campioni 400 | |
| 13-Proprietà Elettriche ed elettro-meccaniche | Caratterizzazione ferroelettrica di film sottili | Ferroelectric Tester by Radiant Technologies | Prove ferroelettriche | Curve isteretiche; Curve IV, CV di film piezoelettrici | Test su un campione – da 100 (senza analisi dati); – da 350 (con analisi dati) | |
| 13-Proprietà Elettriche ed elettro-meccaniche | Coefficienti piezoelettrici di film (D33, D31) | Piezoelectric coefficient tester by MultiMat | Prove piezoelettriche | Voltaggio vs Tempo (D33, D31), Forza vs Tempo | Test su un campione – da 100 (senza analisi dati); – da 350 (con analisi dati) | |
| 14-Proprietà chimiche, ottiche, termiche, termoottiche | Dispositivo per indagini termografiche in continuo a per oggetti macro e micro | Thermocamera FLIR SC300 SERIES | monitoraggio in continuo | analisi termografica, evoluzione temperatura vs tempo in ogni pixel | Test su un campione – da 200 | |
| 14-Proprietà chimiche, ottiche, termiche, termoottiche | Analisi chimico-fisica / Energia di legame | FTIR Thermo Scientific Nicolet iS50 | Riflettanza Totale Attenuata (ATR) & Trasmissione ad angolo variabile per films | IR Spectrum – Estrapolazione dello spettro e riconoscimento del composto, gruppi funzionali, purezza | Test su un campione – da 50 (senza analisi dati); – da 250 (con analisi dati) | |
| 14-Proprietà chimiche, ottiche, termiche, termoottiche | Analisi chimico-fisica | Spettrofotometro UV-VIS EVOLUTION 350 | Misurazione dell’assorbanza della luce UV o visibile da campioni liquidi e solidi & Trasmissione ad angolo variabile per films | Misurazione dell’assorbanza della luce UV o visibile da campioni liquidi e solidi & Trasmissione ad angolo variabile per films | Test su un campione – da 50 (senza analisi dati); – da 250 (con analisi dati) | |
| 15-Identificazione di biomolecole | Caratterizzazione Gel | Tetra cell (Elettroforesi) Bio-RAD mini PROTEAN 165-8004 | caratterizzazione e identificazione di biomolecole anche in miscele complesse, | Caretterizzazione strutturale, seperazione di miscele, quantificazione di molecole, produzione di biogel | Analisi/produzione un campione – da 300 | |
| 16-Caratterizzazioni multi-fisiche in ambienti critici | Camera da vuoto con ambiente termicamente controllato e piastra riscaldante (simulatore ambiente spaziale) | Space Chamber by MultiMat | Camera da vuoto a controllo termico per simulare ambienti aggressivi (es. ambiente spaziale) e per la valutazione di conducibilità termica di materiali e film. | Analisi termografica; analisi della meccanica del movimento; valutazione evoluzione e diffusione temperatura all’interno di un materiale in funzione del tempo; Valutazione funzionale di un materiale in ambiente spaziale; valutazione comportamento meccanico e termomeccanico. Possibilità di misure elettriche in ambiente spaziale | Test su un campione – da 800 a 2000 (senza analisi dati); – da 1000 a 3000 (con analisi dati); – da 1200 a 4000 (con ingegnerizzazione prova); – preparativa campioni 200 | |
| 16-Caratterizzazioni multi-fisiche in ambienti critici | Caratterizzazioni ibride multifisiche | Combinazione strumenti di caratterizzazione | Prove multifisiche | setup ibridi accoppiando misure dinamiche/termiche/meccaniche/elettriche/elettromeccaniche/ottiche etc su campioni o in fasi multiple durante processo fabbricativo | Test su un campione – da 1000 Euro inclusa progettazione prova (senza analisi); – da 1500 Euro inclusa progettazione prova ed analisi | |
| 16-Caratterizzazioni multi-fisiche in ambienti critici | Manipolazione/storage/testing in glove box | Glove Box | Creazione di un ambiente inerte | Misure in ambiente inerte | – da 500 | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Elettrofilatura | Linari Nanotech | Utilizzo di campi elettrici per elettrificare una soluzione polimerica (max 40K Volt) | tessuto -non- tessuto con la morfologia ingegnerizzata (fibre random o ad orientamento predefinito, con fibre aventi diamentro nm o um) | Dimensione standard da 5×5 a 20×20 cm, possibilità di realizzare dimensioni maggiori custom: -da 500 (il prezzo varia anche in funzione del materiale polimerico scelto) | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Dry/Wet spinning | DryWet Spinning by MultiMat | filatura di una soluzione polimerica e polimerizzazione in aria/liquido | Fili polimerici sintetici o artificiali, puri o compositi di dimensioni controllabili | Lunghezza minima 1 m -Da 200 (inclusa preparazione della soluzione) Il prezzo varia in funzione del materiale scelto e di eventuali particolati | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Produzioni tessuti (funzionali e high tech) | Tecnica ibrida | Fabbricazione e funzionalizzazione di materiali tissutali di origine naturale e artificiale attraverso tecniche ibride (esempio a base di: PVDF, PMMA, PDMS, PLA, PE, PET, Nylon, Cellulose etc) | Preparazione soluzione custom e scelta della tecnica di filatura in funzione delle proprietà e della morfologia desiderata, unita ad altre tecniche di funzionalizzazione del tessuto per ottenere gli obiettivi di progetto (es: unione fibre PVDF con layer conduttivo per tessuto piezoelettrico) | Fabbricazione tessuto formato 20×20 cm (dimensioni maggiori possono essere customizzate) -da 1000 ( il prezzo varia anche in funzione del materiale polimerico scelto) | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Produzione di sensori piezoelettrici polimerici Custom per il monitoraggio a contatto e non a contatto (es: deformazioni dinamiche/ vibrazioni, suono) | Tecnica ibrida | Fabbricazione e assemblaggio sensori attraverso tecniche ibride e soluzioni polimeriche (es. PVDF semicristallino elettrofilato) | Preparazione soluzione ed elttrofilatura in campo vicino o campo lontano con eventuale utilizzo dello stage per raggiungere patterns predefiniti. Applicazione elettrodi ed assemblaggio sensore. | Dimensione customizzabile -da 100 | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Produzioni di vernici sensoristiche nanocomposite per monitoraggio delle deformazioni | Tecnica ibrida | Produzione di vernici nanocomposite a base di nanotubi di carbonio o flakes di grafene | Sonication e solution casting | Dimensione e quantità customizzabile -da 300 | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Progettazione e produzione di Materiali Funzionali Custom | Tecnica ibrida | Progettazione e produzione del materiale su requisiti specifici utilizzando l’experties del laboratorio | Materiale funzionale a richiesta | Un campione – Contatta per informazione sui costi | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Fabbricazione compositi e nanocompositi | Strumenti/dispositivi vari | Realizazione di compositi fibro rinforzati (fibre di carbonio, vetro, basalto, tessuti funzionali, rinforzi custom), nano compositi con filler in nanotubi di carbonio, grafene, polvere di grafite, particelle magnetiche, ecc. | Materiali compositi strutturali, materiali conduttivi elettrici e termici, materiali automonitoranti, materiali per smorzamento meccanico, materiali per funzionali | Un campione – Contatta per informazione sui costi | |
| 17-Progettazione, Fabbricazione di materiali e dispositivi funzionali e non | Produzione film sottili | spin coater e film applicator | Sonicazione, mixing meccanico, mixing magnetico, spincoating, film casting a partire da una soluzione polimerica | Film di dimensioni, geometria, e composizione controllata | Un campione – da 100 ( i prezzi variano anche in funzione dei materiali scelti |